IM7585阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07% ● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz

IM7587 阻抗分析儀 可信賴的機(jī)型3GHz ● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量

3504-60 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3504-50 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3504-40 C測(cè)試儀 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等 ● 高速測(cè)量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 ● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 ● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3506-10 LCR測(cè)試儀 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試 ● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 ● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 ● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量

3511-50 LCR測(cè)試儀精巧，非常專(zhuān)業(yè)，5ms快速測(cè)量LCR ● 高速測(cè)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內(nèi)置比較器

IM3533 LCR測(cè)試儀基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。